磷化铟(InP)基铟镓砷(InGaAs)光电二极管外延片

磷化铟(InP)基铟镓砷(InGaAs)光电二极管外延片

        三元化合物半导体材料砷化铟镓(InGaAs)是由砷化镓(GaAs)和砷化铟(InAs)形成的混合固溶体。它是一种闪锌矿结构,属于直接带隙半导体。铟镓砷带宽随合金的变化而变化,可用于制造各种光电器件,如异质结双极晶体管(HBT)、高电子迁移率晶体管(HEMT)、场效应晶体管(FET)等。铟镓砷材料的带隙宽度从InAs的0.35eV(3.5μm)到GaAs的1.42eV(0.87μm)。其中,与磷化铟(InP)衬底晶格匹配的In0.53Ga0.47As的间隙宽度为0.74eV(1.7μm),已广泛应用于0.9~1.7μm波段,如光纤通信、夜视等。我们能够生长铟镓砷外延在磷化铟上用于制造光电二极管,详细的外延结构如下:

铟镓砷光电二极管外延片

1. 铟镓砷光电二极管外延结构

1.1 台面型InGaAs/InP外延结构

外延层 厚度
p-InGaAs
i-InGaAs
n-InP缓冲层 0.3-0.7um
InP 衬底  

  

1.2 平面型InGaAs/InP外延结构

外延层 厚度
i-InGaAs 接触层
n-InP 帽层 0.9-1um
n-InGaAs 界面层
i-InGaAs
n-InP缓冲层
n InP 衬底  

 

2. 铟镓砷外延光电二极管的台面结构与平面结构

        台面型晶体管(二极管和三极管)相对于平面晶体管而言,其结构表现为台面形状。它可以消除平面结构中P-N结的弯曲部分,使P-N结垂直于半导体晶片的侧表面。P-N结的表面电场相对较低,可以保证P-N结击穿基本上是晶体管内雪崩击穿,避免了下表面击穿,从而提高器件的耐压性能。台面结构通过研磨或抛光获得,但在目前的铟砷化镓光电二极管芯片制造工艺中,通常可以通过在原位掺杂的P+-i-N+结构上开槽或蚀刻来实现。

        然而,平面器件是基于铟镓砷/磷化铟材料的N-i-N+结构,通过离子注入或扩散手段形成PN结。这种结构的优点是PN埋在材料中,与外界隔离,因此暗电流和噪声相对较小。

 

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